Laboratorij za elementnu mikroanalizu

Prostorija: O-022


 

		VODITELJ LABORATORIJA doc. dr. sc. Darko Mekterović e-mail: darko.mekterovic@phy.uniri.hr Ured: O-018 Tel: (051) 584 616 Curriculum vitae (.pdf)

Vanjski suradnici

dr. sc. Tatjana Ivošević
 

• Ciklonski uzorkivač lebdećih čestica omogućava prikupljanje finih lebdećih čestica aerodinamičkog promjera manjeg od 2,5 μm na teflonskim filtrima. Uzorkivač se sastoji od pumpe i ciklona za odvajane čestica prema njihovom aerodinamičkom promjeru. 

• X-Beam Superflux proizvođača X-Ray Optical Systems (XOS) je kompaktni izvor x-zračenja koji se koristi za ozračivanje uzoraka u XRF analizi. Efikasnim utroškom snage 50 W generira fokusirajući snop ekstremno velike gustoće toka, pritom održavajući optimalno optičko poravnanje. Posjeduje integrirano aktivno hlađenje i automatski izmjenjive filtere za optimiziranje spektralne karakteristike pobude. U sprezi s XYZ motoriziranim nosačima uzorka moguće je uzorak pomicati u sve tri osi i time zapravo definirati dio površine uzorka koji se ozračuje. Programiranom upotrebom XYZ nosača mogu se sistematski izrađivati elementne mape željenih površina.

• Amptek X123 spektrometar x-zraka je kompaktni integrirani detektorski sustav koji se sastoji od poluvodičkog kristala kao detektora x-zraka, digitalnog procesora signala i višekanalnog analizatora. Detektirano rendgensko zračenje prikuplja se u spektar iz kojeg se određuje elementni sastav uzorka.