Glavni izbornik

Natječaji za upise

Natječaj za upis u I. godinu preddiplomskih i integriranih sveučilišnih studija te preddiplomskih stručnih studija Sveučilišta u Rijeci u 2018./2019. ak. god.

Natječaj za upis u I. godinu diplomskih sveučilišnih studija i specijalističkih diplomskih stručnih studija Sveučilišta u Rijeci i njegovih sastavnica u 2018./2019. ak. god.

Natječaji za radna mjesta

Natječaj za radna mjesta Odjela za fiziku Sveučilišta u Rijeci, srpanj 2018.   

Desetogodišnjica Odjela

Novi doktorski studij

Popularizacija fizike


Subotnje jutro uz fiziku

Uredovno vrijeme

Uredovno vrijeme za studente je radnim danom od 12 do 14 sati. U navedenom vremenu vrata hodnika Odjela za fiziku (prizemlje i prvi kat) bit će otključana, dok ulaz na suteren studentima nije dozvoljen. 

Laboratorij za elementnu mikroanalizu


Prostorija: O-022


 

   

VODITELJ LABORATORIJA

doc. dr. sc. Darko Mekterović
e-mail: darko.mekterovic@phy.uniri.hr

Ured: O-018
Tel: (051) 584 616
Curriculum vitae (.pdf)

  
     


ČLANOVI LABORATORIJA

izv. prof. dr. sc. Gordana Žauhar

Marija Čargonja

 

Vanjski suradnici


dr. sc. Tatjana Ivošević
 



ISTRAŽIVANJA

 



PUBLIKACIJE LABORATORIJA

 



EKSPERIMENTALNA OPREMA

 

  • X-Beam Superflux Polichromatic Focusing proizvođača X-Ray Optical Systems (XOS) je kompaktni izvor polikromatskog x-zračenja koji uključuje i fokusirajuću polikapilarnu optiku za primjenu micro-XRF tehnike u “in situ” mjerenjima, analizi malih čestica, analizi filmova, elementnom mapiranju itd. Efikasnim utroškom snage 50 W generira fokusirajući snop ekstremno velike gustoće toka, pritom održavajući optimalno optičko poravnanje. Posjeduje integrirano aktivno hlađenje i automatski izmjenjive filtere za optimiziranje spektralne karakteristike pobude. Omogućava intenzivnu pobudu željene “točke” uzorka, to jest malog elementa površine dimenzije manje od 25x25 um2. U sprezi s XYZ motoriziranim nosačima uzorka moguće je uzorak pomicati u sve tri osi i time zapravo definirati dio površine uzorka koji se ozračuje. Programiranom upotrebom XYZ nosača mogu se sistematski izrađivati elementne mape željenih površina.
xos.jpg

  • Amptek X123 spektrometar x-zraka je kompaktni integrirani detektorski sustav koji se sastoji od poluvodičkog kristala kao detektora x-zraka, digitalnog procesora signala i višekanalnog analizatora, a spaja se na računalo putem USB porta što omogućuje djelovanje na “plug & play” principu
sdd_123.jpg