Laboratorij za elementnu mikroanalizu


Prostorija: O-022


 

   

VODITELJ LABORATORIJA

doc. dr. sc. Darko Mekterović
e-mail: 
darko.mekterovic@phy.uniri.hr

Ured: O-018
Tel: (051) 584 616

Curriculum vitae (.pdf)

  
     

SURADNICI LABORATORIJA

prof. dr. sc. Gordana Žauhar


izv. prof. dr. sc. Diana Mance

dr. sc. Marija Čargonja

dr. sc. Boris Mifka

 




ISTRAŽIVANJA


 



PUBLIKACIJE LABORATORIJA


 



EKSPERIMENTALNA OPREMA  

  • Ciklonski uzorkivač lebdećih čestica omogućava prikupljanje finih lebdećih čestica aerodinamičkog promjera manjeg od 2,5 μm na teflonskim filtrima. Uzorkivač se sastoji od pumpe i ciklona za odvajane čestica prema njihovom aerodinamičkom promjeru. 


  • X-Beam Superflux proizvođača X-Ray Optical Systems (XOS) je kompaktni izvor x-zračenja koji se koristi za ozračivanje uzoraka u XRF analizi. Efikasnim utroškom snage 50 W generira fokusirajući snop ekstremno velike gustoće toka, pritom održavajući optimalno optičko poravnanje. Posjeduje integrirano aktivno hlađenje i automatski izmjenjive filtere za optimiziranje spektralne karakteristike pobude. U sprezi s XYZ motoriziranim nosačima uzorka moguće je uzorak pomicati u sve tri osi i time zapravo definirati dio površine uzorka koji se ozračuje. Programiranom upotrebom XYZ nosača mogu se sistematski izrađivati elementne mape željenih površina.
xos.jpg

  • Amptek X123 spektrometar x-zraka je kompaktni integrirani detektorski sustav koji se sastoji od poluvodičkog kristala kao detektora x-zraka, digitalnog procesora signala i višekanalnog analizatora. Detektirano rendgensko zračenje prikuplja se u spektar iz kojeg se određuje elementni sastav uzorka. 
sdd_123.jpg
 

 
 
.