Uređaj za spektrometriju fotoelektrona rendgenskim zrakama
Laboratorij je 2009. godine, sredstvima HZZ-a i MZOŠ-a, nabavio XPS spektrometar njemačkog proizvođača SPECS, opremljen sljedećim dodatnim uređajima:
- FOCUS 500 – monokromatizirani izvor rendgenskih zraka (Al Kalpha i Ag Lalpha),
- PHOIBOS 100 MCD-5 – hemisferični analizator energije elektrona (promjera 100 mm) s detektorom od 5 kanala,
- IQE 11/35 – ionski top za niskoenergetske ione inertnih i reaktivnih plinova (0.3 - 5 keV)
- IQE 12/38 – ionski top s fokusiranom ionskom zrakom i diferencijalnim pumpanjem,
- precizan XYZ manipulator nosača uzoraka s kontroliranim grijanjem i hlađenjem (LN2 – 800oC),
- turbo pumpa (Pfeiffer) i titanijeva sublimacijska pumpa (Hositrad) za glavnu komoru,
- turbo pumpa (Pfeiffer) za predkomoru,
- zatvoreni sistem vodenog hlađenja za izvor rendgenskih zraka i vakuumske turbo pumpe,
- FG500 – elektronski top za neutralizaciju površine,
- Residual Gas Analyser (Prisma Plus QMG 220)
Spektroskopija fotoelektrona rendgenskim zrakama (X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS) ili elektronska spektroskopija za kemijsku analizu (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) je analitička tehnika za proučavanje elementalne strukture i kemijskih stanja na površinskim slojevima uzoraka. Primjenjuje se na širokom spektru materijala, od metala i poluvodiča do organskih ili bioloških uzoraka i polimera.
XPS se temelji na međudjelovanju rendgenskih zraka s atomima na površini uzoraka, koje uzrokuje emisiju fotoelektrona s površine. Energije fotoelektrona, koje se analiziraju u elektronskom analizatoru, karakteristične su za pojedine elemente prisutne unutar volumena pobuđenja. XPS je izrazito površinska tehnika s dubinom uzimanja signala do 70 Å. Uz dodatak izvora ionskih snopova koji na kontrolirani način mogu uklanjati slojeve površine, XPS nalazi široku primjenu u dubinskom elementnom profiliranju uzoraka i mjerenju debljine i uniformnosti tankih filmova.
Posebnost XPS tehnike leži u mogućnosti određivanja kemijskog stanja detektiranih elemenata na površinama, poput razlikovanja oksidacijskih stanja različitih elemenata.
Kontakt
FAKULTET ZA FIZIKU
Ulica Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka
Tel.: +385 51 584 600
Fax: +385 51 584 649
E-mail: fizika@phy.uniri.hr
Uredovno vrijeme
Za kontakt molimo nazvati:
- Ured dekana na br. 584-600 (O-010)
- Ured prodekanice na br. 584-607 (O-115)
- Ured ISVU koordinatora na br. 584-624 (O-014)